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SEMICON & OPTO半導體設備

半導體設備

自動光學檢測儀

TTVision F220

F220

1.  High Speed Inspection Head for Higher Throughput

2.  Lower Cost $ per unit LED

3.  Faster Return-of-Investment (ROI)

4.  Multi Wires on Multi Dice Inspection for more device configuration

5.  Foreign Material Inspection (Optional)

6.  Simplified Angle View Setup

7.  Simplified Recipe Setup

8.  Reinforced Machine Base for Lower Vibration


TTVision ATAR

ATAR

1.  Minimum conversion between devices & carrier tape widths

2.  Handles micro devices down to 0.6x0.3mm

3.  Non-contact device alignment

4.  Vision guided PnP

5.  Multiple operation modes

Jin Bun自動光學檢測

E-3000

1.    客制化:滿足客戶個別需求,量身訂做特殊功能

2.    高解析度:可判別微少不良

3.    共用性高:搭載變倍鏡頭,更換晶片規格只需調整倍率,不需更換鏡頭

4.    圖像存儲:可存儲存各站正、反面NG及OK最近檢測各200筆圖像

5.    圖像顯示:運行可即時顯示各站良品或不良品圖像

6.    自訂分類:可自由設定不良名稱及吹氣分類,方便管理。

7.    SSD硬碟:利用先進電腦硬體,快速開機,減少等待時間

8.    人性介面:容易操作使用。

9.    高定位精度:采用超高解析度ENCODER,不誤判混料,不洗盤

10.    生產統計顯示:可即時顯示各站各項不良統計值。